L'alternative à la fluorescence X (XRF) pour l'analyse élémentaire comprend des techniques telles que la spectrométrie d'émission optique (OES) et la spectrométrie de claquage induite par laser (LIBS). Ces méthodes permettent d'analyser directement les pièces sans préparation approfondie de l'échantillon, mais elles présentent des limites par rapport à la fluorescence X. Les méthodes OES et LIBS peuvent laisser des traces visibles sur la surface de la pièce. L'OES et la LIBS peuvent laisser des marques visibles sur les échantillons, ce qui peut être un inconvénient lorsque la préservation de l'intégrité de la pièce est cruciale.
Spectrométrie d'émission optique (OES) :
La spectrométrie d'émission optique est une technique qui utilise la lumière émise par des atomes excités pour déterminer la composition élémentaire d'un matériau. Elle est particulièrement utile pour détecter les éléments à faible numéro atomique et peut fournir une analyse quantitative précise. Cependant, l'OES nécessite une étincelle pour exciter les atomes, ce qui peut causer des dommages physiques à l'échantillon et la rend moins adaptée aux essais non destructifs.Spectrométrie à décomposition induite par laser (LIBS) :
La LIBS utilise une impulsion laser de forte puissance pour créer un microplasma à la surface de l'échantillon, qui émet de la lumière. Le spectre de cette lumière est ensuite analysé pour déterminer la composition élémentaire. La LIBS présente l'avantage de pouvoir analyser des solides, des liquides et des gaz sans préparation importante de l'échantillon. Cependant, comme l'OES, elle peut laisser des marques sur l'échantillon en raison de l'impact du laser à haute énergie.
