Lorsqu'il s'agit d'analyse élémentaire, la fluorescence X (XRF) est un choix populaire.
Toutefois, d'autres techniques peuvent également fournir des informations précieuses.
Il s'agit notamment de la spectrométrie d'émission optique (OES) et de la spectrométrie de claquage induite par laser (LIBS).
La spectrométrie d'émission optique et la spectrométrie de claquage induite par laser peuvent toutes deux analyser des pièces sans préparation approfondie de l'échantillon.
Mais elles présentent leurs propres limites par rapport à la XRF.
Quelle est l'alternative à la XRF ? 3 techniques clés expliquées
1. Spectrométrie d'émission optique (OES)
La spectrométrie d'émission optique utilise la lumière émise par des atomes excités pour déterminer la composition élémentaire d'un matériau.
Elle est particulièrement utile pour détecter les éléments à faible numéro atomique.
L'OES peut fournir une analyse quantitative précise.
Cependant, l'OES nécessite une étincelle pour exciter les atomes.
Cette étincelle peut causer des dommages physiques à l'échantillon.
Par conséquent, l'OES est moins adaptée aux essais non destructifs.
2. Spectrométrie de rupture induite par laser (LIBS)
La LIBS utilise une impulsion laser de forte puissance pour créer un microplasma à la surface de l'échantillon.
Le spectre de la lumière émise par ce microplasma est ensuite analysé pour déterminer la composition élémentaire.
La LIBS présente l'avantage de pouvoir analyser des solides, des liquides et des gaz sans préparation importante de l'échantillon.
Cependant, comme l'OES, la LIBS peut laisser des marques sur l'échantillon en raison de l'impact du laser à haute énergie.
3. Fluorescence des rayons X (XRF)
La fluorescence X reste une méthode privilégiée pour de nombreuses applications.
Cela est dû à sa nature non destructive et à ses vastes capacités d'analyse.
La fluorescence X peut analyser des échantillons sans altérer leurs propriétés physiques.
Cette méthode est donc idéale pour les industries où il est essentiel de préserver l'intégrité des matériaux.
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