Découvrez les précurseurs CVD : des composés volatils qui fournissent des atomes pour former des films minces. Découvrez leur rôle, leurs propriétés idéales et comment choisir le bon.
Découvrez les techniques clés — MET, MEB, Raman, ATG, XPS — pour caractériser la structure, la pureté et la chimie de surface des CNT pour votre application.
Découvrez pourquoi la GFAAS offre des limites de détection 100 à 1000 fois inférieures à celles de la SAA par flamme, en utilisant un volume d'échantillon minimal pour une analyse précise des éléments traces.
Découvrez les principales utilisations des produits frittés dans les industries automobile, médicale et électronique pour des composants de haute performance.
Découvrez les principes fondamentaux de la SAAG : atomisation contrôlée dans un tube en graphite et absorption lumineuse précise pour une sensibilité de l'ordre de la partie par milliard.
La taille du spot XRF varie de 20 mm à 50 µm. Découvrez comment sélectionner la taille correcte pour l'analyse en vrac, de surface ou micro-analyse de vos matériaux.
La capacité thermique de l'alumine est de 0,880 J/g-°C. Découvrez comment sa synergie avec une conductivité thermique élevée et une faible dilatation permet une résistance supérieure aux chocs thermiques.
Découvrez les facteurs clés affectant la durée de vie de la fibre céramique, de la température à l'attaque chimique, et apprenez comment prolonger sa durée de vie dans votre application.
Découvrez comment la fibre céramique offre une isolation thermique exceptionnelle, une résistance électrique et une stabilité dans des environnements extrêmes dépassant 1260°C.
Découvrez pourquoi le ICP-MS offre la plus haute sensibilité pour l'analyse élémentaire, détectant des niveaux de parties par billion (ppt), et comment il se compare au GFAAS, au SIMS et au NAA.
Explorez les principaux inconvénients de l'analyse XRF, notamment les limites de détection des éléments légers, les effets de matrice et les défis liés à la préparation des échantillons.
Découvrez pourquoi la XRF ne peut pas détecter les éléments légers tels que H, He, Li, Be, B, C, N, O et F en raison de la physique fondamentale et des problèmes d'absorption du signal.
Découvrez comment la XRF sert à la fois d'outil qualitatif et quantitatif, de l'identification rapide des éléments à la mesure précise des concentrations.
Découvrez les 4 composants essentiels d'un spectromètre IR : source, interféromètre, échantillon et détecteur. Comprenez comment le FTIR fonctionne pour une analyse chimique précise.
Découvrez comment la spectroscopie FTIR fonctionne pour identifier des matériaux inconnus et confirmer leur composition chimique grâce à des motifs d'absorption infrarouge uniques.
La FTIR lit les vibrations moléculaires en mesurant l'absorption de la lumière infrarouge, fournissant une empreinte chimique unique pour l'identification et l'analyse des matériaux.
Explorez les diverses applications de la spectroscopie IRTF pour l'identification des matériaux, le contrôle qualité et l'analyse dans les domaines pharmaceutique, médico-légal et autres.
Découvrez comment l'analyse forensique par XRF analyse de manière non destructive les résidus de tir, le verre, la peinture et le sol pour relier les suspects aux scènes de crime grâce à une analyse élémentaire rapide et sur site.
Découvrez comment la XRF détecte les éléments traces, ses limites au niveau ppm, et quand la choisir plutôt que l'ICP-MS pour l'analyse des matériaux. Comprenez les facteurs clés affectant la détection.
Découvrez comment l'analyse qualitative XRF identifie les éléments d'un échantillon à l'aide d'empreintes digitales de rayons X uniques. Essentiel pour la science des matériaux et le contrôle qualité.
EDX vs XRF : Comprenez les différences clés en termes d'échelle, de sensibilité et d'application. Découvrez quelle technique est la meilleure pour l'analyse en vrac ou la microanalyse.
La XRF offre une analyse rapide multi-éléments des solides, tandis que l'AAS fournit une mesure mono-élémentaire très sensible dans les liquides. Découvrez lequel est le mieux adapté à votre laboratoire.
La micro-XRF n'exige aucune masse d'échantillon spécifique. Découvrez comment la taille du spot, la qualité de la surface et la préparation de l'échantillon définissent le succès de l'analyse pour une cartographie élémentaire précise.
Explorez des alternatives au graphène telles que les TMD, le h-BN, la phosphorene et les MXenes. Trouvez le matériau 2D adapté à l'électronique, au stockage d'énergie, et plus encore.
Découvrez pourquoi le silicium est le matériau semi-conducteur le plus important. Apprenez ses avantages par rapport au GaAs, GaN et SiC pour les applications informatiques, RF et de puissance.