L'analyse XRF est généralement considérée comme fiable et précise, et permet souvent d'obtenir des résultats comparables aux méthodes d'analyse par le feu. Cette précision permet d'éviter les pertes liées à l'acquisition de matériaux sous-karatés ou contrefaits. La précision de l'analyse XRF est influencée par plusieurs facteurs, notamment la sensibilité et la stabilité des instruments, les techniques de préparation des échantillons et les caractéristiques de l'échantillon lui-même.
Sensibilité et stabilité de l'instrument :
Les instruments XRF modernes ont progressé à un point tel que leur sensibilité et leur stabilité ne sont plus les principales sources d'erreur. Ces instruments, équipés d'algorithmes mathématiques de pointe et d'une électronique avancée, peuvent fournir des résultats rapides et précis en quelques secondes. Ils sont donc idéaux pour diverses applications, notamment le contrôle de la qualité dans les installations de traitement des métaux et l'identification rapide des qualités d'alliage.Techniques de préparation des échantillons :
Malgré les progrès de la technologie des instruments, la précision de l'analyse XRF peut encore être affectée de manière significative par la qualité de la préparation de l'échantillon. Une mauvaise préparation de l'échantillon peut conduire à des résultats inexacts. Le processus de préparation d'un échantillon pour une analyse XRF peut parfois être plus laborieux et plus coûteux que l'analyse elle-même. Il est essentiel de s'assurer que l'échantillon est représentatif du matériau testé et qu'il est préparé de manière à ne pas altérer sa composition élémentaire.
Caractéristiques de l'échantillon :
L'analyse XRF est particulièrement sensible aux caractéristiques de l'échantillon testé. Par exemple, l'émission de rayons X atteint des pics à des longueurs d'onde spécifiques correspondant à des transitions électroniques au sein des atomes de l'échantillon. Ces émissions sont superposées à un fond continu de rayons X diffusés par les électrons externes. La profondeur à laquelle ces émissions sont détectées (généralement entre 1 et 1000 µm sous la surface) peut varier en fonction du poids atomique des éléments de l'échantillon. Les éléments légers sont plus difficiles à détecter que les éléments lourds.
Nature non destructive :
