Lorsqu'il s'agit d'analyser la composition des matériaux, deux techniques courantes sont la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS) et la fluorescence X (XRF).
5 points clés à comprendre
1. Application et échelle d'analyse
L'EDS est utilisée pour l'analyse de la composition de micro-zones.
Elle est souvent couplée à des microscopes électroniques pour analyser de très petites surfaces, généralement de l'ordre de 1 μm.
2. Méthode de détection
L'EDS fonctionne en bombardant un échantillon avec des faisceaux d'électrons dans le vide.
Cela stimule l'émission de rayons X caractéristiques qui peuvent être utilisés pour identifier et quantifier les éléments de B à U dans le tableau périodique.
3. Limites de détection et précision
L'EDS est particulièrement efficace pour les analyses qualitatives et semi-quantitatives.
Sa limite de détection est de 0,1 % à 0,5 % et son erreur quantitative d'environ 2 % pour les éléments de numéro atomique moyen.
4. Essais non destructifs
Le XRF est une méthode d'essai non destructive utilisée pour l'analyse en vrac des matériaux.
Elle utilise un rayonnement pour exciter les atomes d'un échantillon et leur faire émettre des rayons X secondaires caractéristiques des éléments présents.5. Polyvalence et applications industriellesLa fluorescence X est largement utilisée dans divers domaines tels que la science des matériaux, la géologie et l'analyse environnementale.
Elle permet d'obtenir une composition chimique presque complète sans endommager l'échantillon.
La XRF peut être classée en deux catégories : la XRF à dispersion d'énergie (ED-XRF) et la XRF à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), cette dernière offrant une résolution plus élevée mais étant plus complexe et plus coûteuse.
