La taille de l'échantillon pour l'analyse par fluorescence X (XRF) implique généralement la préparation d'une surface d'échantillon de 32 mm ou 40 mm de diamètre. Cette taille est préférable pour garantir une surface suffisante pour des mesures précises. Les méthodes de préparation varient en fonction du type d'échantillon, les échantillons solides nécessitant une surface plane et propre, tandis que les échantillons en poudre et les liquides peuvent nécessiter des traitements différents pour garantir l'homogénéité et la précision de l'analyse.
Échantillons solides :
Pour les échantillons solides, la première exigence est une surface plane et propre pour la mesure. Cette condition est cruciale car la technique XRF repose sur l'interaction des rayons X avec la surface de l'échantillon. La taille de l'échantillon est généralement normalisée à 32 mm ou 40 mm pour s'adapter à l'équipement d'analyse, ce qui garantit que les rayons X peuvent interagir uniformément avec le matériau. La préparation des échantillons solides consiste à s'assurer que la surface est exempte de contaminants et d'irrégularités susceptibles d'interférer avec les mesures radiographiques.Échantillons en poudre et liquides :
Les échantillons en poudre, tels que les sols, les minerais et les autocatalyseurs, doivent souvent être broyés pour obtenir des particules de taille fine (<75 µm) afin d'en garantir l'homogénéité. Ce point est important car l'analyse XRF est sensible aux variations de la composition de l'échantillon. Pour les liquides, la préparation peut impliquer un filtrage afin d'éliminer les solides en suspension susceptibles d'affecter l'analyse. Dans certains cas, les échantillons en poudre sont mélangés à un fondant et chauffés à haute température pour créer des billes fondues, qui fournissent un échantillon plus homogène pour l'analyse. Toutefois, cette méthode peut diluer les oligo-éléments, ce qui risque d'affecter la détection des constituants mineurs.
Équipement de préparation des échantillons :
