L'analyse par fluorescence X (XRF) est utilisée pour analyser une variété de matériaux, y compris les échantillons solides, les échantillons en poudre et les liquides. Les échantillons solides comprennent généralement les métaux, les alliages et la ferraille, tandis que les échantillons en poudre sont souvent constitués de matériaux hétérogènes broyés tels que les sols, les minerais et les catalyseurs automobiles. Les échantillons liquides couramment analysés par XRF comprennent les produits pétroliers.
Échantillons solides :
Les échantillons solides nécessitent une surface plane et propre pour la mesure. La préparation de ces échantillons est relativement simple et consiste à s'assurer que la surface est adaptée à l'analyse. Les spectromètres XRF sont utilisés pour analyser ces échantillons. Le spectromètre dirige des rayons X vers l'échantillon, ce qui provoque l'émission de rayons X secondaires lorsque les atomes réagissent. Ces rayons X secondaires sont détectés et traités pour générer un spectre indiquant la présence et la quantité de divers éléments dans l'échantillon.Échantillons en poudre :
Les échantillons en poudre, tels que les sols et les minerais, sont souvent préparés en écrasant le matériau pour en assurer l'homogénéité. Une méthode courante de préparation de ces échantillons pour l'analyse XRF consiste à fabriquer des pastilles pressées. Cette méthode est privilégiée pour son efficacité, sa rentabilité et les résultats de haute qualité qu'elle produit. Les pastilles sont ensuite analysées par spectroscopie XRF, qui bombarde l'échantillon avec des rayons X et mesure le rayonnement fluorescent qui en résulte pour déterminer la composition élémentaire.
Échantillons liquides :
