Les principales erreurs de l'analyse par fluorescence X (XRF) sont généralement associées aux techniques de préparation des échantillons, en particulier à la contamination et à la contamination croisée. Ces erreurs peuvent avoir un impact significatif sur la précision de l'analyse de la composition élémentaire.
Contamination
La contamination dans la préparation des échantillons XRF se produit souvent au cours du processus de broyage. Cela peut se produire lorsque des composants externes de l'instrument de préparation des échantillons sont introduits par inadvertance dans l'échantillon. Par exemple, des matériaux provenant de l'équipement de broyage peuvent se mélanger à l'échantillon, ce qui entraîne des résultats inexacts. En outre, une contamination croisée avec d'autres échantillons peut également se produire, en particulier dans les environnements où divers types d'échantillons sont traités.Contamination croisée entre échantillons
Ce type de contamination est particulièrement problématique lors de l'analyse d'un large éventail de types d'échantillons. La contamination croisée peut se produire si le même équipement est utilisé pour plusieurs échantillons sans nettoyage adéquat entre les deux. Cela peut entraîner le mélange d'éléments provenant de différents échantillons, ce qui fausse la composition réelle des échantillons analysés.
Préparation des normes d'étalonnage et des échantillons de routine
La précision de l'analyse XRF dépend fortement de l'étalonnage de l'instrument à l'aide de matériaux de référence certifiés. Si les normes d'étalonnage et les échantillons de routine ne sont pas préparés de la même manière, cela peut entraîner des erreurs dans la courbe d'étalonnage, ce qui affecte la précision de l'analyse. Il est donc essentiel de développer une méthode cohérente pour préparer les étalons de calibration et les échantillons inconnus afin de garantir la fiabilité des résultats.
Effets sur les mesures
