L'analyse par fluorescence X (XRF) pénètre généralement l'échantillon à des profondeurs comprises entre 1 et 1000 µm. La profondeur de pénétration est influencée par le poids atomique des éléments de l'échantillon ; les éléments plus légers sont plus difficiles à détecter à des niveaux plus profonds que les éléments plus lourds. En effet, les rayons X caractéristiques émis pendant l'analyse sont généralement dus à des atomes de surface à ces profondeurs. La capacité à détecter des éléments à différentes profondeurs est cruciale pour une analyse précise, car elle affecte le signal reçu par le spectromètre XRF. Les éléments à haute énergie, généralement ceux dont le numéro atomique est élevé, s'échappent plus profondément dans un échantillon, ce qui signifie qu'ils peuvent être détectés dans des couches plus profondes que les éléments à faible énergie. Cette sensibilité à la profondeur est un facteur clé dans la préparation et l'interprétation des résultats d'analyse XRF.
Faites l'expérience d'une sensibilité en profondeur inégalée avec les instruments d'analyse XRF de KINTEK SOLUTION. Améliorez la précision et l'efficacité de votre laboratoire grâce à notre équipement de pointe conçu pour détecter des éléments à différentes profondeurs - de la surface à la carotte. Faites confiance à KINTEK SOLUTION pour vous fournir les outils nécessaires à une analyse XRF précise et complète, vous assurant de découvrir les détails essentiels de vos échantillons. Découvrez comment notre technologie avancée peut transformer vos capacités d'analyse dès aujourd'hui !
