L'analyse par fluorescence X (XRF) pénètre généralement l'échantillon à des profondeurs comprises entre 1 et 1000 µm.
La profondeur de pénétration est influencée par le poids atomique des éléments présents dans l'échantillon.
Les éléments plus légers sont plus difficiles à détecter à des niveaux plus profonds que les éléments plus lourds.
En effet, les rayons X caractéristiques émis pendant l'analyse sont généralement dus à des atomes de surface à ces profondeurs.
La capacité à détecter des éléments à différentes profondeurs est cruciale pour une analyse précise.
Elle affecte le signal reçu par le spectromètre XRF.
Les éléments à haute énergie, généralement ceux qui ont un numéro atomique élevé, s'échappent plus profondément dans l'échantillon.
Cela signifie qu'ils peuvent être détectés dans des couches plus profondes que les éléments à plus faible énergie.
Cette sensibilité à la profondeur est un facteur clé dans la préparation et l'interprétation des résultats de l'analyse XRF.
4 points clés
1. Plage de profondeur de pénétration
L'analyse XRF pénètre généralement l'échantillon à des profondeurs comprises entre 1 et 1000 µm.
2. Influence du poids atomique
La profondeur de pénétration est influencée par le poids atomique des éléments contenus dans l'échantillon.
3. Détection des éléments
Les éléments légers sont plus difficiles à détecter à des niveaux plus profonds que les éléments plus lourds.
4. Sensibilité à la profondeur
Les éléments à haute énergie ont des profondeurs de fuite plus importantes, ce qui signifie qu'ils peuvent être détectés à partir de couches plus profondes.
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