Le test XRF, ou test de fluorescence X, est une technique d'analyse non destructive utilisée pour déterminer la composition élémentaire des matériaux. Elle consiste à exposer un échantillon à des rayons X de haute énergie, ce qui excite les atomes de l'échantillon et émet des rayons X secondaires, ou fluorescents. Chaque élément émet un spectre unique de rayons X fluorescents, qui peut être analysé pour identifier et quantifier les éléments présents dans l'échantillon.
Préparation de l'échantillon :
Le processus commence par la préparation de l'échantillon. Selon la nature du matériau, l'échantillon peut être extrait des couches superficielles du matériau en vrac ou prélevé sous forme de fragment et homogénéisé en une fine poudre. Pour les échantillons plus complexes, un concasseur à mâchoires peut être utilisé pour l'homogénéisation. L'échantillon est ensuite généralement transformé en pastille à l'aide d'une presse hydraulique, ce qui permet de maintenir l'intégrité de l'échantillon pendant l'analyse. Dans certains cas, un équipement de pesage et de dosage automatique peut être utilisé pour accélérer le processus de préparation de l'échantillon.Analyse avec le spectromètre XRF :
L'échantillon préparé est ensuite analysé à l'aide d'un spectromètre XRF, qui se compose d'une source de rayons X et d'un détecteur. La source de rayons X génère des rayons X à haute énergie qui sont dirigés vers l'échantillon. Lorsque ces rayons X interagissent avec l'échantillon, les atomes émettent des rayons X fluorescents. Le détecteur capture ces rayons X fluorescents et génère un spectre qui affiche des pics correspondant aux différents éléments de l'échantillon. La hauteur de ces pics indique la concentration de chaque élément.
Interprétation des résultats :
Le spectre généré par le spectromètre XRF est analysé pour identifier les éléments présents et leurs concentrations respectives. La gamme des éléments détectables par XRF s'étend généralement du sodium (Na) à l'uranium (U), les niveaux de détection variant en fonction de l'instrument spécifique et de la disponibilité des orbitales électroniques dans l'échantillon.Importance de la préparation de l'échantillon :
