Les systèmes XRF, ou systèmes de fluorescence X, sont des outils essentiels dans diverses industries pour analyser la composition élémentaire des matériaux.
Il existe deux principaux types de systèmes XRF : Les systèmes XRF à dispersion d'énergie (ED-XRF) et les systèmes XRF à dispersion de longueur d'onde (WD-XRF).
Les 2 principaux types de systèmes XRF expliqués
1. XRF à dispersion d'énergie (ED-XRF)
Les spectromètres XRF à dispersion d'énergie (ED-XRF) sont connus pour leur simplicité et leur facilité d'utilisation.
Ils sont capables de collecter simultanément les signaux de plusieurs éléments, ce qui les rend efficaces pour les analyses rapides.
La résolution des systèmes ED-XRF est généralement comprise entre 150 eV et 600 eV.
Ils conviennent donc à un large éventail d'applications où la haute précision n'est pas la première exigence.
2. XRF dispersif en longueur d'onde (WD-XRF)
Les spectromètres XRF dispersifs en longueur d'onde (WD-XRF) sont plus complexes et plus coûteux.
Ils utilisent un goniomètre pour collecter un signal à la fois sous différents angles.
Cela permet d'obtenir une résolution beaucoup plus élevée, généralement de 5 eV à 20 eV.
Cette résolution supérieure rend les systèmes WD-XRF idéaux pour les applications nécessitant une analyse élémentaire détaillée et précise, comme dans la recherche et le contrôle de la qualité dans les industries de haute précision.
Les deux types de systèmes XRF sont largement utilisés dans diverses industries, notamment le ciment, les minerais métalliques, les minerais minéraux, le pétrole et le gaz, l'environnement et les applications géologiques.
Le choix entre ED-XRF et WD-XRF dépend des exigences spécifiques de l'analyse, notamment de la rapidité, de la précision et du coût.
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