Le revêtement d'or pour le MEB est principalement utilisé pour rendre les échantillons non conducteurs électriquement conducteurs, afin d'éviter les effets de charge et d'améliorer la qualité des images obtenues. Pour ce faire, on applique une fine couche d'or, dont l'épaisseur varie généralement entre 2 et 20 nm, sur la surface de l'échantillon.
Prévention des effets de charge :
Les matériaux non conducteurs, lorsqu'ils sont exposés au faisceau d'électrons dans un microscope électronique à balayage (MEB), peuvent accumuler des champs électriques statiques, ce qui entraîne des effets de charge. Ces effets déforment l'image et peuvent entraîner une dégradation importante du matériau. En recouvrant l'échantillon d'or, qui est un bon conducteur, la charge est dissipée, ce qui permet à l'échantillon de rester stable sous le faisceau d'électrons et d'éviter les aberrations de l'image.Amélioration de la qualité de l'image :
Le revêtement d'or ne se contente pas d'empêcher la charge, il améliore également de manière significative le rapport signal/bruit dans les images MEB. L'or a un rendement élevé en électrons secondaires, ce qui signifie qu'il émet plus d'électrons secondaires lorsqu'il est touché par le faisceau d'électrons que les matériaux non conducteurs. Cette émission accrue se traduit par un signal plus fort, ce qui permet d'obtenir des images plus claires et plus détaillées, en particulier à des grossissements faibles et moyens.
Applications et considérations :
L'or est largement utilisé pour les applications SEM standard en raison de sa faible fonction de travail, ce qui le rend efficace pour le revêtement. Il est particulièrement adapté aux MEB de table et peut être appliqué sans chauffage important de la surface de l'échantillon, ce qui préserve l'intégrité de ce dernier. Pour les échantillons nécessitant une analyse par rayons X à dispersion d'énergie (EDX), il est important de choisir un matériau de revêtement qui n'interfère pas avec la composition de l'échantillon. C'est pourquoi l'or est souvent préféré, car il n'est généralement pas présent dans les échantillons analysés.
Techniques et équipement :
