Connaissance Quel est le mécanisme de la pulvérisation cathodique réactive ? 5 points clés expliqués
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Mis à jour il y a 1 semaine

Quel est le mécanisme de la pulvérisation cathodique réactive ? 5 points clés expliqués

La pulvérisation réactive est un processus qui implique une réaction chimique entre les atomes pulvérisés à partir d'une cible métallique et les molécules de gaz réactif diffusées à partir d'un gaz de décharge sur le substrat.

Cette réaction produit des couches minces composées, qui servent de matériau de revêtement sur le substrat.

5 points clés expliqués

Quel est le mécanisme de la pulvérisation cathodique réactive ? 5 points clés expliqués

1. Introduction d'un gaz non inerte

Lors de la pulvérisation réactive, un gaz non inerte, tel que l'oxygène ou l'azote, est introduit dans la chambre de pulvérisation avec un matériau cible élémentaire, tel que le silicium.

2. Réaction chimique sur le substrat

Lorsque les molécules de métal de la cible atteignent la surface du substrat, elles réagissent avec les molécules de gaz réactif pour former un nouveau composé.

Ce composé est ensuite déposé sous forme de film mince sur le substrat.

3. Formation de revêtements durs

Les gaz réactifs utilisés dans le procédé, tels que l'azote ou l'oxygène, réagissent chimiquement avec les molécules de métal à la surface du substrat, ce qui entraîne la formation d'un revêtement dur.

4. Combinaison de la pulvérisation cathodique et de la CVD

Le procédé de pulvérisation réactive combine les principes de la pulvérisation conventionnelle et du dépôt chimique en phase vapeur (CVD).

Il implique l'utilisation d'une grande quantité de gaz réactif pour la croissance du film, l'excès de gaz étant pompé.

5. Contrôle de la composition du film

La composition du film peut être contrôlée en ajustant les pressions relatives des gaz inertes et réactifs.

La stœchiométrie du film est un paramètre important pour l'optimisation des propriétés fonctionnelles, telles que la contrainte dans le SiNx et l'indice de réfraction du SiOx.

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