La norme pour l'analyse élémentaire est la fluorescence X (XRF). La fluorescence X est une technique qui permet des analyses précises avec une préparation minimale de l'échantillon. Elle est devenue l'"étalon-or" pour l'analyse de la composition élémentaire dans de nombreuses industries. La fluorescence X est particulièrement adaptée à l'analyse des solides, des poudres, des boues, des filtres et des huiles.
Le XRF est capable d'identifier et de quantifier les éléments présents dans un matériau en vrac de manière non destructive. Il s'agit d'extraire un petit volume d'échantillon des couches superficielles du matériau ou de prélever un fragment du produit en vrac et de l'homogénéiser sous la forme d'une fine poudre. Un spectromètre XRF de table est ensuite utilisé pour mesurer les composants de l'échantillon et développer des données relatives pour le matériau en vrac.
Par rapport à d'autres outils tels que la spectrométrie d'émission optique (OES) et la spectrométrie de claquage induite par laser (LIBS), la spectroscopie XRF offre davantage de possibilités d'analyse et ne laisse pas de traces visibles sur les pièces à usiner. La spectrométrie d'émission optique et la spectrométrie de claquage induite par laser peuvent effectuer une analyse élémentaire des pièces directement sans préparation approfondie de l'échantillon, mais leurs capacités analytiques sont limitées par rapport à la spectroscopie XRF.
Pour obtenir des résultats optimaux avec l'XRF, plusieurs équipements de laboratoire sont nécessaires, notamment de la vaisselle en platine, des fours de fusion à haute performance et des moules spécifiques à la chimie. Cette utilisation diligente de l'équipement de laboratoire facilite l'analyse quantitative et qualitative la plus précise des échantillons d'une manière non destructive.
Lors de la préparation d'échantillons pour l'analyse XRF, des pastilles pressées sont couramment utilisées. Ces pastilles fournissent de meilleurs résultats analytiques que les poudres libres car le broyage et la compression créent une représentation plus homogène de l'échantillon, sans espaces vides et avec une faible dilution de l'échantillon. Les pastilles pressées sont excellentes pour l'analyse des éléments dans la gamme des ppm et sont relativement simples et peu coûteuses à préparer.
En termes d'analyse des éléments lourds et légers, les pastilles pressées présentent un rapport signal/bruit plus élevé que les poudres libres. Cela permet de détecter facilement les éléments les plus légers au-dessus du bruit de fond. En outre, l'absence de couches minces dans les pastilles permet d'effectuer la mesure sous vide, ce qui améliore encore la détection des éléments légers.
La taille des particules est un facteur important pour produire des pastilles qui donnent les meilleurs résultats d'analyse. L'échantillon doit être broyé jusqu'à une taille de particule <75µm, l'idéal étant <50µm. La petite taille des particules garantit que l'échantillon se comprime et se lie correctement lorsqu'il est pressé. Des particules de taille plus importante ou variable peuvent entraîner des hétérogénéités dans l'échantillon, ce qui affecte la précision de l'analyse.
Dans l'ensemble, l'analyse XRF avec des pastilles pressées est la norme pour l'analyse élémentaire en raison de sa nature non destructive, de sa quantification précise et de sa capacité à détecter efficacement à la fois les éléments lourds et les éléments légers.
Améliorez votre laboratoire avec l'équipement XRF de pointe de KINTEK, l'étalon-or de l'analyse élémentaire. Notre technique non destructive offre des résultats précis et exacts, ce qui en fait le choix préféré des industries du monde entier. Ne nécessitant qu'une préparation minimale de l'échantillon, notre équipement XRF est parfait pour l'analyse des solides, des poudres, des boues, des filtres et des huiles. Ne vous contentez pas de capacités analytiques limitées - choisissez KINTEK pour la technologie d'analyse élémentaire la plus avancée. Améliorez votre laboratoire aujourd'hui et découvrez la différence.
