La méthode XRF (X-ray Fluorescence) est largement utilisée pour l'analyse élémentaire, en particulier dans les industries telles que le ciment, les minerais métalliques et minéraux, le pétrole et le gaz, l'environnement et les applications géologiques. Cette technique repose sur le principe suivant : lorsque les électrons internes d'un atome sont bombardés par un rayonnement à haute énergie comme les rayons X, ils sont éjectés et l'atome se détend en émettant des photons de longueurs d'onde caractéristiques, qui sont utilisés pour identifier l'élément.
Explication détaillée :
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Principe de la fluorescence X :
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L'XRF fonctionne en exposant un échantillon à des rayons X de haute énergie. Lorsque ces rayons X interagissent avec l'échantillon, ils provoquent l'éjection des électrons internes des atomes de l'échantillon hors de leurs orbitales atomiques. Cela crée des vides dans les orbites électroniques internes. Pour combler ces vides, des électrons externes de niveaux d'énergie plus élevés descendent, émettant ainsi des photons de rayons X. Ces photons émis ont une énergie spécifique. Ces photons émis ont des énergies spécifiques qui sont caractéristiques de l'élément dont ils proviennent. La mesure de ces énergies permet d'identifier et de quantifier les éléments présents dans l'échantillon.
- Types de spectromètres XRF :Spectromètre XRF à dispersion d'énergie (ED-XRF) :
- Ces spectromètres sont plus simples et plus faciles à utiliser. Ils sont capables de collecter simultanément les signaux de plusieurs éléments. Ils offrent une plage de résolution allant de 150 eV à 600 eV.Spectromètre XRF dispersif en longueur d'onde (WD-XRF) :
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Ces appareils sont plus complexes et plus coûteux, mais offrent une résolution plus élevée, allant de 5 eV à 20 eV. Ils recueillent un signal à la fois sous différents angles à l'aide d'un goniomètre.Préparation de l'échantillon :
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La précision de l'analyse XRF dépend en grande partie de la préparation de l'échantillon. Pour les échantillons de poudre libre, il peut y avoir une sous-estimation des éléments légers tels que Al, Mg et Na, conduisant à une surestimation des éléments plus lourds tels que Fe et Ca. Pour atténuer ce problème, les pastilles d'échantillons sont souvent préparées à l'aide d'une presse hydraulique. Cette méthode garantit une distribution plus uniforme des éléments et permet de détecter même les éléments les plus légers dans l'échantillon, ce qui donne des résultats conformes aux expériences de laboratoire standard.
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Applications :
L'XRF est utilisée dans divers secteurs, notamment la vente au détail et la fabrication de bijoux, les laboratoires d'analyse, les prêteurs sur gages et les affineurs de métaux précieux. Elle est particulièrement utile pour mesurer rapidement et précisément la teneur en métaux précieux d'articles tels que les bijoux et les pièces de monnaie. Cette technique est également très utile pour détecter l'or ou les bijoux plaqués or contrefaits en permettant la détection du revêtement/placage.
Avantages :
