L'épaisseur des revêtements par pulvérisation utilisés en microscopie électronique à balayage (MEB) est généralement comprise entre 2 et 20 nanomètres (nm). Cette couche ultra-mince de métal, généralement de l'or, de l'or/palladium, du platine, de l'argent, du chrome ou de l'iridium, est appliquée sur des échantillons non conducteurs ou faiblement conducteurs afin d'empêcher leur chargement et d'améliorer le rapport signal/bruit en augmentant l'émission d'électrons secondaires.
Explication détaillée :
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Objectif du revêtement par pulvérisation cathodique :
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Le revêtement par pulvérisation cathodique est essentiel pour le MEB lorsqu'il s'agit de matériaux non conducteurs ou sensibles au faisceau. Ces matériaux peuvent accumuler des champs électriques statiques, ce qui fausse le processus d'imagerie ou endommage l'échantillon. Le revêtement agit comme une couche conductrice, évitant ces problèmes et améliorant la qualité des images SEM en augmentant le rapport signal/bruit.Épaisseur du revêtement :
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L'épaisseur optimale des revêtements par pulvérisation au MEB se situe généralement entre 2 et 20 nm. Pour les MEB à faible grossissement, des revêtements de 10 à 20 nm sont suffisants et n'affectent pas l'imagerie de manière significative. Toutefois, pour les MEB à plus fort grossissement, en particulier ceux dont la résolution est inférieure à 5 nm, il est essentiel d'utiliser des revêtements plus fins (jusqu'à 1 nm) pour éviter d'obscurcir les détails les plus fins de l'échantillon. Les machines de revêtement par pulvérisation cathodique haut de gamme, équipées de caractéristiques telles que le vide poussé, l'environnement gazeux inerte et le contrôle de l'épaisseur du film, sont conçues pour réaliser ces revêtements précis et minces.
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Types de matériaux de revêtement :
Si les métaux comme l'or, l'argent, le platine et le chrome sont couramment utilisés, les revêtements de carbone sont également employés, en particulier pour des applications telles que la spectroscopie à rayons X et la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD), où il est important d'éviter que le matériau de revêtement n'interfère avec l'analyse élémentaire ou structurelle de l'échantillon.
Impact sur l'analyse de l'échantillon :
