Les méthodes de fluorescence X (XRF) impliquent l'utilisation de spectromètres de fluorescence X pour analyser la composition élémentaire des matériaux. Pour ce faire, les atomes du matériau sont excités par des rayons X primaires, qui émettent ensuite des rayons X secondaires (fluorescence) caractéristiques des éléments présents. L'analyse peut être qualitative, en identifiant les éléments, ou quantitative, en déterminant les concentrations de ces éléments. Les méthodes XRF sont classées en dispersion de longueur d'onde et en dispersion d'énergie en fonction de la manière dont les rayons X émis sont dispersés et détectés.
1. Dispersion de la longueur d'onde XRF (WDXRF) :
Cette méthode utilise un spectromètre à cristaux pour séparer les rayons X fluorescents par longueur d'onde. Chaque élément émet des rayons X à des longueurs d'onde spécifiques, qui sont ensuite détectés et analysés pour identifier les éléments présents dans l'échantillon. Le WDXRF offre une résolution et une sensibilité élevées, ce qui le rend adapté à l'analyse élémentaire détaillée.2. XRF à dispersion d'énergie (EDXRF) :
Dans cette méthode, un détecteur à semi-conducteur est utilisé pour mesurer directement l'énergie des rayons X fluorescents. Cela permet la détection simultanée de plusieurs éléments sans nécessiter de pièces mobiles, ce qui accroît la rapidité et la simplicité de l'analyse. L'EDXRF est plus portable et plus polyvalente, ce qui la rend idéale pour les applications sur le terrain et le dépistage rapide.
3. Analyseurs XRF portables :
Ces appareils sont portatifs et offrent mobilité et autonomie, ce qui permet d'effectuer des analyses sur place et en temps réel sans avoir besoin d'installer un laboratoire. Ils sont particulièrement utiles dans les industries où des résultats immédiats sont cruciaux, comme dans le recyclage des métaux, la surveillance de l'environnement et le contrôle de la qualité dans l'industrie manufacturière.4. Progrès technologiques dans le domaine de l'XRF :
Les progrès récents comprennent le développement de cristaux multicouches, qui ont élargi la gamme de détection pour inclure des éléments légers comme le béryllium, le bore, le carbone, l'azote et l'oxygène. Les améliorations apportées à la puissance du tube à rayons X, à la collimation et à la technologie des détecteurs ont également amélioré la sensibilité et les limites de détection des spectromètres XRF modernes.
5. Préparation de l'échantillon :
